采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度；

 

　　定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；

 

　　鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)；

 

　　高分辨率探頭使分析結(jié)果更加；

 

　　良好的射線屏蔽作用；

 

　　測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

 

　　膜厚分析儀具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。