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天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600繼承了天瑞儀器EDX系列的準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測試結果符合國標GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》的要求。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX8000L利用中國歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測的部門提供的標準陶瓷片樣品為儀器標定基準標樣，一次性同時分析古陶瓷標本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學成份含量，再對照中國古陶瓷數(shù)據庫便可以達到斷代斷源的功效。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX3600H融匯合金分析技術，配備智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。

天瑞X射線熒光光譜儀Thick600是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術和經驗，以*的產品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。Thick600鍍層測厚儀使用實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結構及色彩設計，使儀器操作更人性化、更方便。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX4500是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等關注的元素進行準確分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

天瑞X射線熒光光譜儀EDX2000H黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析。應用新一代的高壓電源和X光管，提供了產品的可靠性，利用新X光管提高儀器的測試效率，并優(yōu)化產品性能和提高安全防護等級。不添加任何硬件設施既可升級分析功能，方便靈活的隨未來發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低，檢測時間短，可以大大提高工作效率。