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型號:

XTU-A X熒光光譜儀

描述:XTU-A X熒光光譜儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度*的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。
該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商
  • 更新時間

    2024-04-27
  • 訪問量

    1286
詳細介紹
品牌其他品牌行業(yè)專用類型通用
價格區(qū)間面議儀器種類臺式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,印刷包裝

儀器簡介:

XTU-A X熒光光譜儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,模塊精密化程度*的鍍層測厚儀,采用了下照式C型腔體設(shè)計,不但可以測量各種微小樣品,即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量,是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型

該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內(nèi)的樣品涂鍍層檢測。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。


產(chǎn)品優(yōu)勢:

  • 快速精準(zhǔn)移動定位:高精密微型移動滑軌,10-30mm(X-Y)/圈,精度0.005mm

  • 微焦X射線裝置:檢測面積可小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件

  • 高效率正比接收器:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性

  • 變焦裝置及算法:可對各種異形凹槽進行檢測,凹槽深度測量范圍可達0-30mm

  • 對焦方便:下照式設(shè)計可以快速定位對焦樣品


XTU-A X熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

廣泛應(yīng)用于電鍍鍍層厚度分析、接插件等電子元器件檢測、緊固件行業(yè)、五金行業(yè)(家用設(shè)備及配件等,如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS))、汽車零部件、配飾厚度分析、新能源行業(yè)(光伏焊帶絲等)、汝鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、電鍍液的金屬陽離子檢測等多種領(lǐng)域。

XTU.jpg


多元迭代EFP核心算法ZL號:2017SR567637)

專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上,計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合*光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應(yīng)用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用:如NiP/Fe,通過EFP算法,在計算鎳磷鍍層厚度的同時,還可精準(zhǔn)分析出鎳磷含量比例。

重復(fù)鍍層應(yīng)用:不同層有相同元素,也可精準(zhǔn)測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,第一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量。


技術(shù)參數(shù):

1. 元素分析范圍:氯(Cl)- 鈾(U)

2. 涂鍍層分析范圍:氯(Cl)/鋰(Li)- 鈾(U)

3. 厚度檢出限:0.005μm

4. 成分檢出限:1ppm

5. 最小測量直徑0.2mm(最小測量面積0.03mm2)

6. 對焦距離:0-30mm

7. 樣品腔尺寸:500mm*360mm*215mm

8. 儀器尺寸:550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量:45KG

10. XY軸工作臺移動范圍:50mm*50mm

11. XY軸工作臺最大承重:5KG



選擇一六儀器的四大理由:

1.一機多用,無損檢測

2.最小測量面積0.002mm2

3.可檢測凹槽0-30mm的異形件

4.輕元素,重復(fù)鍍層,同種元素不同層亦可檢測


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