磁性材料鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù) 

1   分析元素范圍：S-U

2   可分析多達(dá)3層以上鍍層

3   分析厚度檢出限達(dá)0.02μm

4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05μm

5   定位精度：0.5mm5   測(cè)量時(shí)間：30s-300s

6   計(jì)數(shù)率：1000-8000cps

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法

2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

鍍層厚度分析

RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測(cè)；

合金成分分析；

7  儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個(gè)范圍內(nèi)，才能檢測(cè)。0.5-10um的，偏差是5%，就是說(shuō)真值是1um，用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。

經(jīng)過(guò)多年的積累，在鍍層厚度檢測(cè)方面，我們一直保持國(guó)內(nèi)：主要原因是我們的性價(jià)比與售后服務(wù)具有很強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)力，這個(gè)優(yōu)勢(shì)不僅僅體現(xiàn)在購(gòu)買價(jià)格上，也體現(xiàn)在產(chǎn)品生命周期花費(fèi)的總體成本上。Thick600鍍鎳測(cè)厚儀是，儀器采用下照式結(jié)構(gòu)，適合平面樣品的檢測(cè)，配置的軟件界面簡(jiǎn)潔，測(cè)試樣品用時(shí)40S，售后服務(wù)可靠及時(shí)。

磁性材料鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求準(zhǔn)直器和濾光片手動(dòng)切換：不同樣品材質(zhì)用不同的準(zhǔn)直器移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率 

硬件配置 

1. 探測(cè)器

2. 高、低壓電源

3. X光管                              

4. MCA多道分析器

5. 高精密攝像頭

6. 移動(dòng)平臺(tái)（自動(dòng)）

7. 準(zhǔn)直器8. 標(biāo)準(zhǔn)樣品