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型號(hào):XD-1000

能量色散X射線熒光測(cè)試膜厚儀

描述:能量色散X射線熒光測(cè)試膜厚儀
X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。
X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。

  • 廠商性質(zhì)

    經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間

    2024-04-30
  • 訪問量

    348
詳細(xì)介紹
品牌喬邦儀器價(jià)格區(qū)間10萬-20萬
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域化工,能源,電子,電氣,綜合

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X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。

X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長(zhǎng)為0.000001 m (1μm)左右。

我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類.

高性價(jià)比上照式光譜測(cè)厚儀,對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件。能量色散X射線熒光測(cè)試膜厚儀

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可靠的高性能:測(cè)試精度、穩(wěn)定性高,在提供高質(zhì)量的同時(shí)減少浪費(fèi)和停機(jī)時(shí)間。

更高的性價(jià)比:制造工藝升級(jí),更具性價(jià)比,大大節(jié)省使用成本。

前沿檢測(cè)技術(shù):高級(jí)成垂直光路系統(tǒng),采用*解譜技術(shù)和影像識(shí)別算法,實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)、快速、智能、自動(dòng)檢測(cè),滿足企業(yè)檢測(cè)需求。

使用壽命更長(zhǎng):模塊化設(shè)計(jì),聚焦節(jié)能,搭載自動(dòng)休眠模式,延長(zhǎng)使用壽命。

核心EFP算法:*EFP算法不但對(duì)多層測(cè)試精準(zhǔn)、校準(zhǔn)方便,而且解決了多層合金、上下元素重復(fù)鍍層及滲層的檢測(cè)難題。

四焦一體裝置:搭載高集成四焦技術(shù),可測(cè)量最大90mm深度的凹槽高低落差異形件。

上照式設(shè)計(jì):上下位機(jī)管理分工,可實(shí)現(xiàn)對(duì)超大型工件的快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效測(cè)量。

適用性強(qiáng):精準(zhǔn)測(cè)量各類金屬鍍層厚度的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析。

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自動(dòng):可編程自動(dòng)位移平臺(tái),無人值守、自動(dòng)檢測(cè)樣品;一次編程,便可實(shí)現(xiàn)成百上千個(gè)樣品點(diǎn)的高效檢測(cè)。

智能:實(shí)現(xiàn)自動(dòng)AI影像智能尋點(diǎn),編程檔案自動(dòng)匹配測(cè)試位置,在面對(duì)大批同類型樣品檢測(cè)時(shí),具備明顯的優(yōu)勢(shì)。

在線:根據(jù)客戶要求,可個(gè)性化定制產(chǎn)線在線式檢測(cè),為工業(yè)4.0提供在線檢測(cè)整體解決方案,提高檢測(cè)效率,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)智能化工廠。

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XD-1000上照式光譜測(cè)厚儀,對(duì)各類鍍層厚度分析的同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、微小密集型多點(diǎn)測(cè)試或自動(dòng)逐個(gè)檢測(cè)大量的小部件,如線路板、引線支架、衛(wèi)浴產(chǎn)品等

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能量色散X射線熒光測(cè)試膜厚儀

X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,又稱金屬涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。

X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波??梢暪饩€的波長(zhǎng)為0.000001 m (1μm)左右。

我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類.




























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