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+2020-07-28
+鍍層測厚儀x射線光譜分析儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型鍍層光譜分析儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
天津X射線鍍層測厚儀是經(jīng)過多年的經(jīng)驗,研發(fā)用于電鍍層行業(yè)的一款無損測試儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺,*達到了自動化,是一款功能強大的儀器,為客戶解決了測試難題,在行業(yè)中大展身手。