您好,歡迎進(jìn)入深圳喬邦儀器有限公司網(wǎng)站!
產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
related articles2020-12-28
+2020-07-28
+電鍍測(cè)試儀器 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。
電鍍厚度測(cè)試儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。
鍍層厚度檢測(cè)儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。
電鍍件鍍層厚度檢測(cè)儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。