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測(cè)試膜:又名X射線(xiàn)熒光光譜儀樣品薄膜,邁拉膜,麥拉膜,XRF測(cè)試薄膜,XRF樣品膜,樣品薄膜,EDX薄膜,EDX樣品薄膜,ROHS檢測(cè)膜,光譜儀樣品薄膜;是應(yīng)用于X熒光光譜儀的用于保留液體、粉末、泥漿或固體樣本在樣本杯內(nèi)的物質(zhì)。專(zhuān)用樣品薄膜是使用方便簡(jiǎn)捷,無(wú)污染的測(cè)試用樣品薄膜,廣泛應(yīng)用于Elite、fischer、牛津、博曼、先鋒、日立、天瑞等各種品牌的EDX/XRF光譜儀。
XRAY金屬厚度測(cè)試儀Thick800A是專(zhuān)門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手