您好,歡迎進(jìn)入深圳喬邦儀器有限公司網(wǎng)站!
產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
related articles2023-10-12
+2022-11-22
+2022-07-18
+金屬鍍層智能測(cè)厚儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。
涂鍍層測(cè)厚儀 X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。
涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。 X射線的能量穿過(guò)金屬鍍層的同時(shí),金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過(guò)這樣的原理,我們?cè)O(shè)計(jì)出:膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x,其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應(yīng)全球環(huán)保工藝準(zhǔn)則,故市場(chǎng)上普遍使用的都是無(wú)損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。
無(wú)損無(wú)接觸測(cè)量厚度測(cè)量?jī)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類.
單層/多層厚度測(cè)量?jī)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類.
光學(xué)無(wú)接觸膜厚厚度測(cè)量?jī)x 我們的產(chǎn)品是利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和熒光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類.